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4 2 | w w w c o m p u t e r - a u t o m a t i o n d e · 10 -2 5 Co n t a c t Im a g e Se n s o r e n Nah am Objekt von Xing-Fei He Contact Image Sensoren CIS eignen sich für Inspektionsaufgaben in Umgebungen mit begrenztem Einbauraum zum Beispiel für Anwendungen in der Batteriefertigung der Druckindustrie oder für Produktionslinien zur Herstellung von gedruckten Leiterplatten Doch was macht sie so besonders? Die automatische optische Inline-Inspektion AOI ist ein wichtiger Bestandteil in modernen Produktionslinien um Qualitätskontrollen in Echtzeit und mit hohem Durchsatz zu ermöglichen Bei der Prüfung von länglichen oder quasi endlosen Materialien kommen dabei häufig zeilenkamerabasierte Prüfsysteme zum Einsatz die in der Regel 250 bis 500 mm Abstand zum Prüfobjekt erfordern Diese räumlichen Vorgaben lassen sich jedoch nicht immer realisieren Hier spielen CIS-Geräte einen ihrer Hauptvorteile im Vergleich zu herkömmlichen Zeilenkameras aus Ihr kleiner Formfaktor ermöglicht Arbeitsabstände zum Prüfobjekt im Bereich von typischerweise nur 10 bis 15 mm Die CIS-Technologie bietet zudem einen höheren Integrationsgrad der Kamera-Objektivund Beleuchtungskomponenten kombiniert und die Systementwicklung beschleunigt und vereinfacht Geschwindigkeit und Auflösung Generell zählen Geschwindigkeiten und Auflösungen zu den wichtigsten technischen Spezifikationen für Bildverarbeitungssysteme und geben derzeit auch die Grenzen vieler CIS-Produkte vor So muss beispielsweise der Durchsatz bei der Produktion von Batterien die eine Schlüsselrolle in der Strategie für saubere Energie beim Übergang zu Elektrofahrzeugen spielen sehr hoch sein Die Kombination kleinerer Pixelgrößen mit höheren Zeilenraten stellt in diesem Bereich sicher dass die geforderten Erkennungsraten ohne Einschränkung des Systemdurchsatzes erreicht werden Eine hohe Auflösung verbessert nicht nur die Erkennungsraten sondern erhöht auch die Messgenauigkeit Erkennung dunkler und reflektierender Materialien Im Monochrom-Modus verwenden innovative CIS-Module einen Dualline-Sensor mit unabhängiger Belichtungssteuerung Diese Sensorarchitektur ermöglicht die Aufnahme von Bildern mit hohem Dynamikbereich mit unterschiedlichen Belichtungen für jede Zeile um helle beziehungsweise dunkle Szenen in einem einzigen Scanvorgang zu erfassen Die beiden von jeder Zeile erfassten Bilder können separat Bi ld er Tele dy ne Dals a